Experimental determination of refractive indices in semiconducting films: CDS, TI3O5

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In this work, we present results of measurements of the refraction index realized withsemiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti,O). Theapplied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide ef...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Rodríguez Laura, Sandro, Miculicich Egoavil, Osar, Oliva Chirinos, Christian, Fiorentini, Arturo, Valera Palacios, Aníbal
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2001
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional de Ingeniería
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/516
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Nivel de acceso:acceso abierto
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