Experimental determination of refractive indices in semiconducting films: CDS, TI3O5
Descripción del Articulo
In this work, we present results of measurements of the refraction index realized withsemiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti,O). Theapplied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide ef...
| Autores: | , , , , |
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| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2001 |
| Institución: | Universidad Nacional de Ingeniería |
| Repositorio: | Revistas - Universidad Nacional de Ingeniería |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/516 |
| Enlace del recurso: | https://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Sumario: | In this work, we present results of measurements of the refraction index realized withsemiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti,O). Theapplied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide effect. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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