DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
Descripción del Articulo
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| Autores: | , , , , |
|---|---|
| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2001 |
| Institución: | Universidad Nacional de Ingeniería |
| Repositorio: | Revista UNI - Tecnia |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/516 |
| Enlace del recurso: | http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Índices de refracción Películas semiconductoras |
| Sumario: | Ver PDF |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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