DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5

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Detalles Bibliográficos
Autores: Rodríguez Laura, Sandro, Miculicich Egoavil, Osar, Oliva Chirinos, Christian, Fiorentini, Arturo, Valera Palacios, Aníbal
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2001
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:Revista UNI - Tecnia
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/516
Enlace del recurso:http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Índices de refracción
Películas semiconductoras
id 0375-7765_6f37838d87a4f7b94e406ef2ff7ce23d
oai_identifier_str oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/516
network_acronym_str 0375-7765
repository_id_str .
network_name_str Revista UNI - Tecnia
spelling DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5Rodríguez Laura, SandroMiculicich Egoavil, OsarOliva Chirinos, ChristianFiorentini, ArturoValera Palacios, AníbalÍndices de refracciónPelículas semiconductorasVer PDFUniversidad Nacional de Ingeniería2001-12-01info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionArtículo evaluado por paresapplication/pdfhttp://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/51610.21754/tecnia.v11i1.516TECNIA; Vol 11 No 1 (2001)TECNIA; Vol. 11 Núm. 1 (2001)2309-04130375-7765reponame:Revista UNI - Tecniainstname:Universidad Nacional de Ingenieríainstacron:UNIspahttp://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516/479info:eu-repo/semantics/openAccess2021-05-29T15:55:42Zmail@mail.com -
dc.title.none.fl_str_mv DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
title DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
spellingShingle DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
Rodríguez Laura, Sandro
Índices de refracción
Películas semiconductoras
title_short DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
title_full DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
title_fullStr DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
title_full_unstemmed DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
title_sort DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
dc.creator.none.fl_str_mv Rodríguez Laura, Sandro
Miculicich Egoavil, Osar
Oliva Chirinos, Christian
Fiorentini, Arturo
Valera Palacios, Aníbal
author Rodríguez Laura, Sandro
author_facet Rodríguez Laura, Sandro
Miculicich Egoavil, Osar
Oliva Chirinos, Christian
Fiorentini, Arturo
Valera Palacios, Aníbal
author_role author
author2 Miculicich Egoavil, Osar
Oliva Chirinos, Christian
Fiorentini, Arturo
Valera Palacios, Aníbal
author2_role author
author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv Índices de refracción
Películas semiconductoras
topic Índices de refracción
Películas semiconductoras
dc.description.none.fl_txt_mv Ver PDF
description Ver PDF
publishDate 2001
dc.date.none.fl_str_mv 2001-12-01
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Artículo evaluado por pares
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516
10.21754/tecnia.v11i1.516
url http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516
identifier_str_mv 10.21754/tecnia.v11i1.516
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.none.fl_str_mv http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516/479
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidad Nacional de Ingeniería
publisher.none.fl_str_mv Universidad Nacional de Ingeniería
dc.source.none.fl_str_mv TECNIA; Vol 11 No 1 (2001)
TECNIA; Vol. 11 Núm. 1 (2001)
2309-0413
0375-7765
reponame:Revista UNI - Tecnia
instname:Universidad Nacional de Ingeniería
instacron:UNI
reponame_str Revista UNI - Tecnia
collection Revista UNI - Tecnia
instname_str Universidad Nacional de Ingeniería
instacron_str UNI
institution UNI
repository.name.fl_str_mv -
repository.mail.fl_str_mv mail@mail.com
_version_ 1701108800328564736
score 13.7211075
DETERMINACIÓN EXPERIMENTAL DE ÍNDICES DE REFRACCIÓN EN PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS: CDS, TI3O5
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