Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
Descripción del Articulo
En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso específico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en sí complementarios y co...
| Autores: | , , |
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| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2001 |
| Institución: | Universidad Nacional de Ingeniería |
| Repositorio: | UNI-Tesis |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/14345 |
| Enlace del recurso: | http://hdl.handle.net/20.500.14076/14345 https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Fotocorriente espectral Photocurrent spectroscopy |
| Sumario: | En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso específico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en sí complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eV |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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