Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5

Descripción del Articulo

En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti3O5), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.
Detalles Bibliográficos
Autores: Rodríguez Laura, Sandro, Miculicich Egoavil, Oscar Lennon, Oliva Chirinos, Christian Joel, Fiorentini Aguirre, Arturo, Valera Palacios, Aníbal
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2001
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:UNI-Tesis
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/14375
Enlace del recurso:http://hdl.handle.net/20.500.14076/14375
https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Índices de refracción
Películas semiconductoras
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TECNIA, 11(1). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.5162309-0413http://hdl.handle.net/20.500.14076/14375TECNIAhttps://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti3O5), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.In this work, we present results of measurements of the refraction index realized with semiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti3O5) The applied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide effect.Submitted by Quispe Rabanal Flavio (flaviofime@hotmail.com) on 2018-10-06T00:34:38Z No. of bitstreams: 1 TECNIA_Vol.11-n1-Art.10.pdf: 8808459 bytes, checksum: afd3d73a59a1166e3e1404b2c1aa2baa (MD5)Made available in DSpace on 2018-10-06T00:34:38Z (GMT). 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