Espectroscopia de fotocorriente aplicado a celdas solares de película delgada elaboradas en base a Silicio amorfo hidrogenado (A - Si:H)
Descripción del Articulo
En este trabajo reportamos mediciones de la respuesta óptica de silicio amorfo (a-Si:H), bajo el umbral del Gap óptico, empleando el método de espectroscopia de fotocorriente, Las películas de a-Si:H fueron elaborados por medio de un sistema plasmático DC no convencional. Las medidas sugieren que la...
Autores: | , |
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Formato: | artículo |
Fecha de Publicación: | 2005 |
Institución: | Universidad Nacional de Ingeniería |
Repositorio: | UNI-Tesis |
Lenguaje: | inglés |
OAI Identifier: | oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/14090 |
Enlace del recurso: | http://hdl.handle.net/20.500.14076/14090 https://doi.org/10.21754/tecnia.v15i2.419 |
Nivel de acceso: | acceso abierto |
Materia: | Películas delgadas Silicio amorfo Celdas solares |
Sumario: | En este trabajo reportamos mediciones de la respuesta óptica de silicio amorfo (a-Si:H), bajo el umbral del Gap óptico, empleando el método de espectroscopia de fotocorriente, Las películas de a-Si:H fueron elaborados por medio de un sistema plasmático DC no convencional. Las medidas sugieren que la densidad de estados de este material no es muy diferente del silicio amorfo convencional. Se determinan las posiciones de las correspondientes transiciones electrónicas fotovoltaicas, existiendo una buena correspondencia con niveles internos conocidos del material. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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