Investigación del efecto del óxido de silicio en la determinación del porcentaje de agregado en los cementos puzolanicos utilizando el método de Difracción de Rayos X

• Autores: Valdivia Mejia, Eder Andrés, Valdivia Benero, María Rosangela
• Formato: tesis de grado
• Fecha de Publicación: 2014
• Institución: Universidad Nacional de San Agustín
• Repositorio: UNSA-Institucional
• Lenguaje: español
• OAI Identifier: oai:repositorio.unsa.edu.pe:UNSA/4024
• Enlace del recurso: http://repositorio.unsa.edu.pe/handle/UNSA/4024
• Nivel de acceso: acceso abierto
• Materia: Cementos puzolanicos; Calor de hidratación; Efecto invernadero; Oxido de silicio; Difracción rayos x; https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#2.05.02

En los últimos tiempos la búsqueda de materiales que permitan reemplazar al clinker en la fabricación de cementos adicionados se ha convertido en una labor prioritaria para la industria cementera, los beneficios de una mayor utilización de este tipo de materiales son enormes, beneficios entre los cuales podemos enunciar los siguientes: • Reducir las emisiones de CO2 contribuyendo a disminuir el calentamiento global por la disminución del efecto invernadero. • Incrementar la capacidad de producción al reducir el factor clinker/cemento • Permitir mejorar las propiedades específicas de los cementos, para ser utilizados en aplicaciones especiales como menor calor de hidratación, mayor resistencia a los sulfatos, mayor resistencia a las reacciones álcali agregado, disminuye la permeabilidad. Hasta hace unos años para poder determinar el porcentaje del material agregado al cemento se hacía uso de la vía clásica, debido al avance de la tecnología en cuanto a nuevos métodos de análisis como es la técnica de Difracción de rayos X, que tiene muchas posibilidades que están poco divulgadas, por medio de esta técnica se podrá calcular el porcentaje de material agregado en los diferentes tipos de cemento, y a su vez se evaluara la influencia del Oxido de Silicio del material agregado en el cemento y cómo influye en el cálculo por el método de Difracción de Rayos X.