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Propiedades psicométricas de la Escala de Felicidad (EFL) en jóvenes estudiantes de Lima Norte, 2020

Descripción del Articulo

La presente investigación de diseño instrumental y tipo psicométrico tuvo como objetivo, Analizar las propiedades psicométricas de la Escala de Felicidad (EFL) en jóvenes estudiantes de Lima Norte. La muestra de 300 jóvenes estudiantes fue obtenida por un muestreo no probabilístico por conveniencia....

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Rios Coba, Lisbeth Yanina
Formato: tesis de grado
Fecha de Publicación:2020
Institución:Universidad Cesar Vallejo
Repositorio:UCV-Institucional
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:repositorio.ucv.edu.pe:20.500.12692/47886
Enlace del recurso:https://hdl.handle.net/20.500.12692/47886
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Felicidad
Jóvenes - Actitudes
Psicometría
https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#3.02.00
Descripción
Sumario:La presente investigación de diseño instrumental y tipo psicométrico tuvo como objetivo, Analizar las propiedades psicométricas de la Escala de Felicidad (EFL) en jóvenes estudiantes de Lima Norte. La muestra de 300 jóvenes estudiantes fue obtenida por un muestreo no probabilístico por conveniencia. Se analizó la validez de contenido mediante el análisis de ítems considerando estadísticos descriptivos, demás, se realizó la validez mediante el juicio de 5 expertos y se obtuvieron los índices mediante la V de Aiken p>0.80 en 27 ítems. La validez de constructo se obtuvo a través del análisis factorial confirmatorio que permitió verificar la pertinencia del modelo teórico para explicar la felicidad compuesta por cuatro dimensiones de acuerdo a la teoría de Reynaldo Alarcón. La confiabilidad por consistencia interna fue obtenida a través del coeficiente Alfa con un valor de 0.92 y Omega de McDonald obteniendo un valor de 0.94. Finalmente, se realizaron rangos percentiles para la interpretación de la escala, con niveles: Bajo, Promedio y Alto. En síntesis, la escala de felicidad EFL reúne adecuadas evidencias de validez y confiabilidad para su aplicación.
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