EVALUACIÓN DE LA DIMENSIÓN DE LA ZONA SENSIBLE DE UN DETECTOR SEMICONDUCTOR COAXIAL DE GeHP
Descripción del Articulo
In this work the sensibility behavior of a coaxial GeHP detector is presented with respect to the arrival of a colhmated radiation beam in the frontal and lateral sides ofthe detector. The results show that for a horizontal or vertical configuration of the cryostat, a preferential direction of the d...
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| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2004 |
| Institución: | Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Repositorio: | Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:ojs.csi.unmsm:article/8820 |
| Enlace del recurso: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8820 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | GeHP semiconductor detecting colimated. Detector semiconductor GeHP colimación. |
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EVALUACIÓN DE LA DIMENSIÓN DE LA ZONA SENSIBLE DE UN DETECTOR SEMICONDUCTOR COAXIAL DE GeHPEVALUACJÓN DE LA DIMENSIÓN DE LA ZONA SENSIBLE DE UN DETECTOR SEMICONDUCTOR COAXIAL DE GeHPGómez B., JavierVela M., MarianoLlosa D., MelchorGeHP semiconductor detectingcolimated.Detector semiconductor GeHPcolimación.In this work the sensibility behavior of a coaxial GeHP detector is presented with respect to the arrival of a colhmated radiation beam in the frontal and lateral sides ofthe detector. The results show that for a horizontal or vertical configuration of the cryostat, a preferential direction of the detection exists. From the sensibility profiles, an estimate of the sensitive dimension of the semiconductor glass of the detector was obtained.En este trabajo se presenta el comportamiento de la sensibilidad de un detector coaxial de GeHP respecto de la llegada del haz de radiación colimado en la dirección frontal como lateral. Los resultados muestran que, para una configuración horizontal o vertical del criostato, existe una dirección preferencial de detección. A partir de los perfiles de sensibilidad se obtuvo un estimado de la dimensión sensible del cristal semiconductor del detector.Universidad Nacional Mayor de San Marcos2004-12-31info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfhttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/882010.15381/rif.v7i01-02.8820Revista de Investigación de Física; Vol. 7 No. 01-02 (2004); 76-78Revista de Investigación de Física; Vol. 7 Núm. 01-02 (2004); 76-781728-29771605-7724reponame:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstname:Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstacron:UNMSMspahttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8820/7657Derechos de autor 2004 Javier Gómez B., Mariano Vela M., Melchor Llosa D.https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0info:eu-repo/semantics/openAccessoai:ojs.csi.unmsm:article/88202020-09-02T17:48:17Z |
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