EVALUACIÓN DE LA DIMENSIÓN DE LA ZONA SENSIBLE DE UN DETECTOR SEMICONDUCTOR COAXIAL DE GeHP
Descripción del Articulo
In this work the sensibility behavior of a coaxial GeHP detector is presented with respect to the arrival of a colhmated radiation beam in the frontal and lateral sides ofthe detector. The results show that for a horizontal or vertical configuration of the cryostat, a preferential direction of the d...
| Autores: | , , |
|---|---|
| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2004 |
| Institución: | Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Repositorio: | Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:ojs.csi.unmsm:article/8820 |
| Enlace del recurso: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8820 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | GeHP semiconductor detecting colimated. Detector semiconductor GeHP colimación. |
| Sumario: | In this work the sensibility behavior of a coaxial GeHP detector is presented with respect to the arrival of a colhmated radiation beam in the frontal and lateral sides ofthe detector. The results show that for a horizontal or vertical configuration of the cryostat, a preferential direction of the detection exists. From the sensibility profiles, an estimate of the sensitive dimension of the semiconductor glass of the detector was obtained. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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