A METHOD OF MEASURING THERMAL STABILITY IN DELTA-DOPING

Descripción del Articulo

A new superlattice in semiconductors is discussed which allows to determine the geometrical stability and precision of delta-doping layers in respect to migration and diffusion effects, and even a technological evaluation of the production devíce. This structure acts as inner probe in doping superla...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Zehe, Alfred, Torres Tapia, Eusebio, Ramírez, Araceli
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2005
Institución:Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe:article/8550
Enlace del recurso:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8550
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Superred
dopamiento bidimensional
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estabilidad térmica
arreglo geométrico
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