Caracterización óptica y estructural de monocapas de silicio poroso por medio de reflectancia en la región visible y rayos X

Descripción del Articulo

A porous silicon monolayer with porosity varying in depth was characterized using different optical methods. The results show that techniques based on reflectance in the visible region diverge in approximately 20% of those found by means of X-ray based methods. This divergence is associated to the w...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Roque Huanca, Danilo
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2019
Institución:Centro de Preparación para la Ciencia y Tecnología
Repositorio:ECIPERÚ
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:revistas.eciperu.net:article/120
Enlace del recurso:https://revistas.eciperu.net/index.php/ECIPERU/article/view/120
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:silicio poroso, reflectancia de rayos X, GISXASX, espectroscopia por infiltración de líquidos
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description A porous silicon monolayer with porosity varying in depth was characterized using different optical methods. The results show that techniques based on reflectance in the visible region diverge in approximately 20% of those found by means of X-ray based methods. This divergence is associated to the wavelength dependence of the refractive index of both the porous structure and the infiltrated liquid inside the pores. The results suggest that the porous structure can be modeled as a set of spherical pores with radius ranging from 3.0 to 4.4 nm, in addition to cylindrical pores with radius and length varying between 22 and 42 nm, while its length does between 55 -102 nm. The porosity of the structure varies in depth between 65-81%.
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