Diseño y construcción de un sistema para la supervisión in-situ del crecimiento de una película delgada de ZnO fabricada por rociado pirolítico

• Autores: Comina, Germán, Rodríguez, Juan, Solís, José, Estrada, Walter
• Formato: artículo
• Fecha de Publicación: 2005
• Institución: Instituto Peruano de Energía Nuclear
• Repositorio: IPEN-Institucional
• Lenguaje: español
• OAI Identifier: oai:repositorio.ipen.gob.pe:20.500.13054/413
• Enlace del recurso: https://hdl.handle.net/20.500.13054/413
• Nivel de acceso: acceso abierto
• Materia: Óxidos de cinc; Películas; Capas finas; Pirolisis; Microscopía electrónica por barrido

Se implementó un sistema que supervisa in-situ el espesor y calcula el perfil de una película delgada fabricada por la técnica de rociado pirolítico. El sistema se basa en la medición de la reflexión de un haz láser que proviene del sistema película-sustrato, el patrón de interferencia se utilizó para calcular el espesor de la película delgada. El perfil de la película se determinó a partir de los patrones de reflexión para puntos separados 0.5 cm ubicados en línea recta sobre el sustrato. Se estudió el crecimiento de una película delgada de ZnO fabricada por rociado pirolítico usando este método. Se encontró que las medidas de espesor in-situ tienen buena relación con las medidas ex-situ usando profilimetría y microscopía electrónica de barrido (SEM). Las micrografías SEM muestran que la superficie de la película esta formada por partículas de forma alargada, las cuales se hacen más redondas y grandes cuando la película se hace más gruesa. Éste hecho se relaciona con un incremento en la componente difusa del espectro de transmisión y reflexión para el rango visible de la película y con la tendencia del factor de rugosidad hallado in-situ.