Análisis de sedimentos por fluorescencia de rayos x en energía dispersiva

• Autor: Olivera, Paula
• Formato: artículo
• Fecha de Publicación: 2003
• Institución: Instituto Peruano de Energía Nuclear
• Repositorio: IPEN-Institucional
• Lenguaje: español
• OAI Identifier: oai:repositorio.ipen.gob.pe:20.500.13054/244
• Enlace del recurso: https://hdl.handle.net/20.500.13054/244
• Nivel de acceso: acceso abierto
• Materia: Fluorescencia de rayos X; Sedimentos; Materiales de referencia normalizados

Se ha analizado mediante Fluorescencia de Rayos X en Energía Dispersiva con excitación radioisotópica, una muestra desconocida de sedimento junto a un material de referencia, de matriz similar (SL-1/IAEA). Los errores observados fueron menores del 10% en la mayoría de los casos, excepto para el Ti. Se utilizó una fuente anular de Cd-109 para la excitación de los elementos y un detector semiconductor de Si(Li), acoplado a una tarjeta multicanal incorporado en una PC para la detección de los rayos X característicos. Se ha usado el método de sensibilidad elemental para la determinación de concentraciones de los elementos presentes en rango de número atómico de 19 a 42 (k a Mo) mediante sus líneas K y de 50 a 93 (Sn a U), mediante sus líneas L.