ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO

Descripción del Articulo

Ver PDF
Detalles Bibliográficos
Autores: Fernández Chillcce, Enver, Eyzaguirre Gorvenia, Carmen, Valera Palacios, Aníbal
Formato: artículo
Fecha de Publicación:1999
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:Revista UNI - Tecnia
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/442
Enlace del recurso:http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/442
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:películas
semiconductoras
id 0375-7765_2c559b98a284d0cd2e501a78baaba6ba
oai_identifier_str oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/442
network_acronym_str 0375-7765
repository_id_str .
network_name_str Revista UNI - Tecnia
spelling ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFOFernández Chillcce, EnverEyzaguirre Gorvenia, CarmenValera Palacios, AníbalpelículassemiconductorasVer PDFUniversidad Nacional de Ingeniería1999-06-01info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionArtículo evaluado por paresapplication/pdfhttp://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/44210.21754/tecnia.v9i1.442TECNIA; Vol 9 No 1 (1999)TECNIA; Vol. 9 Núm. 1 (1999)2309-04130375-7765reponame:Revista UNI - Tecniainstname:Universidad Nacional de Ingenieríainstacron:UNIspahttp://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/442/342info:eu-repo/semantics/openAccess2021-05-29T15:55:33Zmail@mail.com -
dc.title.none.fl_str_mv ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
title ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
spellingShingle ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
Fernández Chillcce, Enver
películas
semiconductoras
title_short ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
title_full ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
title_fullStr ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
title_full_unstemmed ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
title_sort ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
dc.creator.none.fl_str_mv Fernández Chillcce, Enver
Eyzaguirre Gorvenia, Carmen
Valera Palacios, Aníbal
author Fernández Chillcce, Enver
author_facet Fernández Chillcce, Enver
Eyzaguirre Gorvenia, Carmen
Valera Palacios, Aníbal
author_role author
author2 Eyzaguirre Gorvenia, Carmen
Valera Palacios, Aníbal
author2_role author
author
dc.subject.none.fl_str_mv películas
semiconductoras
topic películas
semiconductoras
dc.description.none.fl_txt_mv Ver PDF
description Ver PDF
publishDate 1999
dc.date.none.fl_str_mv 1999-06-01
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
Artículo evaluado por pares
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/442
10.21754/tecnia.v9i1.442
url http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/442
identifier_str_mv 10.21754/tecnia.v9i1.442
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.none.fl_str_mv http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/442/342
dc.rights.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidad Nacional de Ingeniería
publisher.none.fl_str_mv Universidad Nacional de Ingeniería
dc.source.none.fl_str_mv TECNIA; Vol 9 No 1 (1999)
TECNIA; Vol. 9 Núm. 1 (1999)
2309-0413
0375-7765
reponame:Revista UNI - Tecnia
instname:Universidad Nacional de Ingeniería
instacron:UNI
reponame_str Revista UNI - Tecnia
collection Revista UNI - Tecnia
instname_str Universidad Nacional de Ingeniería
instacron_str UNI
institution UNI
repository.name.fl_str_mv -
repository.mail.fl_str_mv mail@mail.com
_version_ 1701108799910182912
score 13.873204
ELABORACIÓN Y CARACTERIZACIÓN FISICA DE PELÍCULAS SEMICONDUCTORAS DE SILICIO AMORFO
Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).

Ejemplares Similares