Propiedades ópticas, estructurales, y eléctricas de películas delgadas de ZnO - Mg preparadas por el método sol – gel
Descripción del Articulo
En la presente investigación se evaluaron películas delgadas de ZnO sintetizadas por el método sol-gel, dopadas con Mg a una concentración de 0,65 M. Se determinó el efecto de la temperatura de recocido (400, 500 y 600°C) y del porcentaje molar del dopante (2, 4, 6 y 8%), sobre las propiedades eléct...
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| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2019 |
| Institución: | Universidad San Pedro |
| Repositorio: | Revistas - Universidad San Pedro |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/357 |
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Propiedades ópticas, estructurales, y eléctricas de películas delgadas de ZnO - Mg preparadas por el método sol – gelDíaz , Alex Acevedo, PaulAlva , Karina Casanova , Gilda En la presente investigación se evaluaron películas delgadas de ZnO sintetizadas por el método sol-gel, dopadas con Mg a una concentración de 0,65 M. Se determinó el efecto de la temperatura de recocido (400, 500 y 600°C) y del porcentaje molar del dopante (2, 4, 6 y 8%), sobre las propiedades eléctricas y morfológicas. Se encontró que las películas delgadas de ZnO muestran la mayor conductividad eléctrica y tamaño de grano al dopaje de 2% de Mg y a un recocido de 600°C; siendo de 8,55x10-7Ω-1cm-1 y de 38,56 nm respectivamente. Así también, la menor conductividad eléctrica y el menor tamaño de grano, se da a un dopaje del 8% de Mg y a un recocido de 400°C; siendo los valores de 1,48x10-7 Ω-1cm-1 y 14,13 nm; de modo que, el tamaño de grano crece con el incremento de la temperatura; pero disminuye a medida que aumenta la concentración molar de Mg. El tamaño de grano se determinó mediante la ecuación de Scherrer sobre los picos de difracción de rayos X (DRX). Los resultados mostraron que las películas delgadas de ZnO dopadas con Mg poseen una estructura hexagonal tipo wurtzita con una orientación preferencial al plano (002).Universidad San Pedro2019-08-06info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfhttps://revista.usanpedro.edu.pe/index.php/CPD/article/view/357CONOCIMIENTO PARA EL DESARROLLO; Vol. 10 Núm. 1 (2019): Conocimiento para el Desarrollo; 47-532664-46652225-0794reponame:Revistas - Universidad San Pedroinstname:Universidad San Pedroinstacron:USANPEDROspahttps://revista.usanpedro.edu.pe/index.php/CPD/article/view/357/326Derechos de autor 2019 CONOCIMIENTO PARA EL DESARROLLOinfo:eu-repo/semantics/openAccessoai:ojs.pkp.sfu.ca:article/3572020-03-17T19:56:08Z |
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En la presente investigación se evaluaron películas delgadas de ZnO sintetizadas por el método sol-gel, dopadas con Mg a una concentración de 0,65 M. Se determinó el efecto de la temperatura de recocido (400, 500 y 600°C) y del porcentaje molar del dopante (2, 4, 6 y 8%), sobre las propiedades eléctricas y morfológicas. Se encontró que las películas delgadas de ZnO muestran la mayor conductividad eléctrica y tamaño de grano al dopaje de 2% de Mg y a un recocido de 600°C; siendo de 8,55x10-7Ω-1cm-1 y de 38,56 nm respectivamente. Así también, la menor conductividad eléctrica y el menor tamaño de grano, se da a un dopaje del 8% de Mg y a un recocido de 400°C; siendo los valores de 1,48x10-7 Ω-1cm-1 y 14,13 nm; de modo que, el tamaño de grano crece con el incremento de la temperatura; pero disminuye a medida que aumenta la concentración molar de Mg. El tamaño de grano se determinó mediante la ecuación de Scherrer sobre los picos de difracción de rayos X (DRX). Los resultados mostraron que las películas delgadas de ZnO dopadas con Mg poseen una estructura hexagonal tipo wurtzita con una orientación preferencial al plano (002). |
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