Propiedades ópticas, estructurales, y eléctricas de películas delgadas de ZnO - Mg preparadas por el método sol – gel

Descripción del Articulo

En la presente investigación se evaluaron películas delgadas de ZnO sintetizadas por el método sol-gel, dopadas con Mg a una concentración de 0,65 M. Se determinó el efecto de la temperatura de recocido (400, 500 y 600°C) y del porcentaje molar del dopante (2, 4, 6 y 8%), sobre las propiedades eléct...

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Detalles Bibliográficos
Autores: Díaz , Alex, Acevedo, Paul, Alva , Karina, Casanova , Gilda
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2019
Institución:Universidad San Pedro
Repositorio:Revistas - Universidad San Pedro
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:ojs.pkp.sfu.ca:article/357
Enlace del recurso:https://revista.usanpedro.edu.pe/index.php/CPD/article/view/357
Nivel de acceso:acceso abierto
Descripción
Sumario:En la presente investigación se evaluaron películas delgadas de ZnO sintetizadas por el método sol-gel, dopadas con Mg a una concentración de 0,65 M. Se determinó el efecto de la temperatura de recocido (400, 500 y 600°C) y del porcentaje molar del dopante (2, 4, 6 y 8%), sobre las propiedades eléctricas y morfológicas. Se encontró que las películas delgadas de ZnO muestran la mayor conductividad eléctrica y tamaño de grano al dopaje de 2% de Mg y a un recocido de 600°C; siendo de 8,55x10-7Ω-1cm-1 y de 38,56 nm respectivamente. Así también, la menor conductividad eléctrica y el menor tamaño de grano, se da a un dopaje del 8% de Mg y a un recocido de 400°C; siendo los valores de 1,48x10-7 Ω-1cm-1 y 14,13 nm; de modo que, el tamaño de grano crece con el incremento de la temperatura; pero disminuye a medida que aumenta la concentración molar de Mg. El tamaño de grano se determinó mediante la ecuación de Scherrer sobre los picos de difracción de rayos X (DRX). Los resultados mostraron que las películas delgadas de ZnO dopadas con Mg poseen una estructura hexagonal tipo wurtzita con una orientación preferencial al plano (002).
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