Síntesis y caracterización por DRX y microscopía electrónica de YAIO3 puro por el método de combustión en solución
Descripción del Articulo
El objetivo de esta tesis es sintetizar el YAlO3. Este material cristalino presenta propiedades ópticas interesantes, además es un material prometedor como matriz cristalina para láser, fósforos, centelladores, medio para registro holográfico, y muchos otros. Se escogió el método de combustión en so...
Autor: | |
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Formato: | tesis de maestría |
Fecha de Publicación: | 2019 |
Institución: | Universidad Nacional de Ingeniería |
Repositorio: | UNI-Tesis |
Lenguaje: | español |
OAI Identifier: | oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/21827 |
Enlace del recurso: | http://hdl.handle.net/20.500.14076/21827 |
Nivel de acceso: | acceso abierto |
Materia: | Compuesto YAlO3 Propiedades ópticas Método de difracción de rayos X https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.01 |
Sumario: | El objetivo de esta tesis es sintetizar el YAlO3. Este material cristalino presenta propiedades ópticas interesantes, además es un material prometedor como matriz cristalina para láser, fósforos, centelladores, medio para registro holográfico, y muchos otros. Se escogió el método de combustión en solución utilizando como combustibles en un caso sólo urea y en otro una mezcla de urea con glicina. En el primer caso se obtuvo una sustancia grumosa muy espesa color marrón oscuro seguido de un tratamiento térmico hasta 700 ◦C por 3 horas, obteniéndose un polvo esponjoso de color blanco el cual fue verificado estar en fase pura de YAlO3 de acuerdo con el método de difracción de rayos X. En el segundo caso se obtuvo directamente un polvo esponjoso de color blanco. El difractograma de rayos X por el método del polvo confirmó la obtención de fase pura de YAlO3. Naturalmente el segundo caso tiene la ventaja de ser obtenido directamente el resultado esperado sin necesidad de un tratamiento térmico. Los datos obtenidos del espectro de difracción de rayos X se usaron para realizar un refina- miento de Rietveld del espectro obtenido. Los parámetros estructurales obtenidos, así como las posiciones atómicas fraccionales muestran una excelente correspondencia con la literatura asociada a la estructura ortorrómbica distorsionada de perovskita. Por otra parte, se presenta la caracterización morfológica de la muestra por Microscopia Electrónica de Barrido (MEB). Finalmente, se muestra la caracterización estructural por difracción de rayos X del YAlO3 dopado con el ion Cr3+. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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