Aplicación del análisis de modos y efecto de fallas en el proceso de investigación de la FAIIA acorde a la norma ISO 9001:2015

Descripción del Articulo

El trabajo tuvo la finalidad identificar y caracterizar los procesos que se desarrollan en el Instituto Especializado de Investigación de la FAIIA – UNCP; para ello se realizó un lineamiento estratégico con las metas de la Facultad de Ingeniería en Industrias Alimentarias y con los requisitos solici...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Espinal Tufino, Aracelly Maritza
Formato: tesis de maestría
Fecha de Publicación:2020
Institución:Universidad Nacional del Centro del Perú
Repositorio:UNCP - Institucional
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:repositorio.uncp.edu.pe:20.500.12894/6421
Enlace del recurso:http://hdl.handle.net/20.500.12894/6421
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Procesos
Investigación
AMEF
Descripción
Sumario:El trabajo tuvo la finalidad identificar y caracterizar los procesos que se desarrollan en el Instituto Especializado de Investigación de la FAIIA – UNCP; para ello se realizó un lineamiento estratégico con las metas de la Facultad de Ingeniería en Industrias Alimentarias y con los requisitos solicitados por el sistema de acreditación. Los subprocesos desarrollados fueron: gestión del sistema problemático, gestión de la investigación científica, gestión de la investigación formativa, gestión del desarrollo tecnológico y gestión de las publicaciones, patentes y eventos científicos; para cada caso, se elaboró la caracterización y se identificaron los indicadores respectivos siguiendo con la secuencia de alinearlos estratégicamente. Además, se realizó el estudio del Análisis del Modo y Efecto de Fallas (AMEF) en el subproceso de Gestión de la investigación formativa: obtención de grados y títulos; como resultado se pudo detectar la falla prioritaria relacionada a las líneas de investigación, el diagrama de Pareto nos demuestra que enfocándonos a controlar o reducir esta falla, el proceso puede generar mejoras en su desarrollo.
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