Certificación ISO 9001-2008 en el proceso enseñanza aprendizaje de la carrera técnica, electrónica industrial SENATI, 2018

• Autor: López Zúñiga, Diana Lizet
• Formato: tesis de maestría
• Fecha de Publicación: 2018
• Institución: Universidad Cesar Vallejo
• Repositorio: UCV-Institucional
• Lenguaje: español
• OAI Identifier: oai:repositorio.ucv.edu.pe:20.500.12692/19622
• Enlace del recurso: https://hdl.handle.net/20.500.12692/19622
• Nivel de acceso: acceso abierto
• Materia: Certificación ISO 9001 -2008; Procesos Enseñanza Aprendizaje; SENATI; https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#5.03.00

El presente trabajo de estudio fue elegido, porque en mi centro de labores SENATI, consideran de mucha importancia contar con la certificación internacional ISO 9001- 2008, dado que es aquel mecanismo que permite conseguir el logro de los objetivos deseados, destacándose como fundamental el Proceso de Aprendizaje Enseñanza. Por lo cual la presente tesis, titulado “Certificación ISO 9001-2008 en el proceso enseñanza aprendizaje de la carrera técnica, electrónica industrial SENATI, 2018”, tiene como finalidad determinar la incidencia de la certificación ISO 9001 – 2008 en el proceso enseñanza – aprendizaje de la carrera técnica, electrónica industrial, SENATI 2018, analizando las dimensiones de la fase de planificación, ejecución, actividades de desarrollo personales y sociales; y formación práctica en empresa planteados por SENATI, según su directiva general y procesos fundamentales de la formación y capacitación profesional con código: SEN-DIRG-02 (2005). Al estudio le corresponde el método hipotético – deductiva, el enfoque a utilizar será el cuantitativo, el diseño corresponde a una investigación no experimental transversal, descriptiva correlacional causal, el tipo de estudio es básica. Para finalizar se concluyó que la certificación ISO 9001-2008 incide significativamente en el Proceso Enseñanza Aprendizaje de la carrera técnica, Electrónica Industrial, SENATI, 2018; el cual se evidencia a través de los resultados obtenidos por cada dimensión analizada.