Textura y Estrés: las aplicaciones olvidadas de la Difracción de Rayos X en materiales
Descripción del Articulo
X-ray crystallography result constitutes a fundamental analytical technique for the thorough study of the crystalline structure of materials. Despite to its enormous relevance at both scientific and industrial level, the popularization of its advanced analysis methodologies has been insufficient up...
| Autor: | |
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| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2020 |
| Institución: | Pontificia Universidad Católica del Perú |
| Repositorio: | PUCP-Institucional |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:repositorio.pucp.edu.pe:20.500.14657/174058 |
| Enlace del recurso: | http://revistas.pucp.edu.pe/index.php/quimica/article/view/22686/21828 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Ciencia materiales Fifracción de rayos X Textura Estrés Tensión https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.04.00 |
| Sumario: | X-ray crystallography result constitutes a fundamental analytical technique for the thorough study of the crystalline structure of materials. Despite to its enormous relevance at both scientific and industrial level, the popularization of its advanced analysis methodologies has been insufficient up today. Therefore, in this work we show different application possibilities using the X-ray diffraction, very useful in order to obtain in some cases critical information from our materials. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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