Adaptación de cofias unitarias en Co-Cr elaboradas con diferentes técnicas de fabricación y sobre dos líneas de terminación

• Autores: Zelada Ladrón de Guevara, Cinthya Cecilia, Flores Valverde, Yovana Elisa, Loarte Campos, Micarla Yanira, Requena Cisneros, Silvio Over, Castillo Andamayo, Diana Esmeralda, Quintana del Solar, Martín Gilberto
• Formato: artículo
• Fecha de Publicación: 2018
• Institución: Universidad Peruana Cayetano Heredia
• Repositorio: Revistas - Universidad Peruana Cayetano Heredia
• Lenguaje: español
• OAI Identifier: oai:revistas.upch.edu.pe:article/3278
• Enlace del recurso: https://revistas.upch.edu.pe/index.php/REH/article/view/3278
• Nivel de acceso: acceso abierto

Nuevas tecnologías nos han permitido migrar de la técnica de cera perdida colada por centrifugado (CPC) a la fabricación aditiva como la fusión selectiva por láser (SLM), proporcionando una mejor adaptación marginal e interna. Objetivos: Comparar la discrepancia marginal e interna en cofi as unitarias de Co-Cr sobre 2 líneas de terminación: chamfer y bisel, fabricadas con la CPC y SLM, determinando cual tuvo mejor adaptación marginal e interna. Material y Métodos: Se tuvo 4 grupos de estudio: CPC chamfer (n=13), CPC bisel (n=13), SLM chamfer (n=13) y SLM bisel (n=13). Para evaluar la discrepancia marginal e interna se usó el método de la réplica en silicona, seccionando primero en sentido vestíbulo-palatino (V-P) y segundo en sentido mesio-distal (M-D). Se midió las zonas cervical, axial y oclusal con un estéreo microscopio a 40X. Resultados: Se evaluó los supuestos de normalidad con la prueba de Shapiro-Wilk, y el análisis estadístico fue con las pruebas t de Student y U Mann-Whitney. La menor discrepancia marginal fue para la SLM chamfer con promedios menores de 24,70±10,29 μm en el corte V-P y de 21,82±5,94 μm en el corte M-D, seguido por la SLM bisel en el corte V-P de 34,12±16,23 μm y en el corte M-D de 35,34±8,91 μm. La CPC bisel en el corte V-P fue de 27,17±21,11 μm y en el corte M-D de 47,91±16,77 μm y para la CPC chamfer en el corte V-P fue de 89,65±58,39 μm y en el corte M-D de 91,72±67,13 μm; la diferencia fue estadísticamente signifi cativa solo para las cofi as de SLM chamfer comparándolas con la CPC chamfer. En la discrepancia interna los valores en los 4 grupos no tuvieron diferencias estadísticas. Conclusiones: Según los valores, la mejor adaptación marginal fue para la SLM chamfer, seguida por la SLM bisel, CPC bisel y la CPC chamfer. En cuanto a la adaptación interna, los valores no fueron concluyentes para decir que técnica fue mejor, pero se logró mejor adaptación en la zona axial que la zona oclusal.