Texture Quantification in Y Ba 2 Cu 3 O 7 Superconducting Films
Descripción del Articulo
Y Ba2Cu3O7 epitaxial superconducting film is consequence of an optimum epitaxial growth process of superconducting grains. Also, the substrate's epitaxy has a direct repercussion on the lm microstructure and its physical properties. Conventional characterization techniques such as: scanning ele...
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| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2020 |
| Institución: | Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Repositorio: | Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:ojs.csi.unmsm:article/20293 |
| Enlace del recurso: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/20293 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Epitaxy Texture scanning electronic microscopy X-ray diffraction Epitaxia Textura Microscopía electrónica de barrido difracción de rayos X |
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Texture Quantification in Y Ba 2 Cu 3 O 7 Superconducting FilmsCuantificación de la Textura en Capas Superconductoras de Y Ba2 Cu3 O7Gonzalez, J.C.De Los Santos, LSánchez Cornejo, HOsorio, A.MAlbino Aguiar, J.Bustamante, A.EpitaxyTexturescanning electronic microscopyX-ray diffractionEpitaxiaTexturaMicroscopía electrónica de barridodifracción de rayos XY Ba2Cu3O7 epitaxial superconducting film is consequence of an optimum epitaxial growth process of superconducting grains. Also, the substrate's epitaxy has a direct repercussion on the lm microstructure and its physical properties. Conventional characterization techniques such as: scanning electronic microscopy, and x ray difrraction, allowed us to obtain a quick assessment of epitaxy quality through of texture quantification of the film. We present the results of texture quantification in Y Ba2Cu3O7 superconducting films.Una capa superconductora epitaxial de Y Ba2Cu3 7 es el resultado de un óptimo proceso de crecimiento epitaxial de los granos superconductores. Además, la epitaxia del sustrato tiene una directa repercusión en la microestructura y las propiedades físicas de la capa. Por medio de técnicas de caracterización convencionales, tales como: microscopía electrónica de barrido, y difracción de rayos X, permiten realizar una rápida valoración de la calidad de la epitaxia por medio de la cuantificación de la textura de la capa. Presentamos los resultados de la cuantificación de la textura en capas superconductoras de Y Ba2Cu3O7 .Universidad Nacional Mayor de San Marcos2020-12-25info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfhttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/2029310.15381/rif.v23i2.20293Revista de Investigación de Física; Vol. 23 No. 2 (2020); 7-16Revista de Investigación de Física; Vol. 23 Núm. 2 (2020); 7-161728-29771605-7724reponame:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstname:Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstacron:UNMSMspahttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/20293/16644Derechos de autor 2021 Juan Gonzalez, L De Los Santos, H Sánchez Cornejo, A.M Osorio, J. Albino Aguiar, A. Bustamantehttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0info:eu-repo/semantics/openAccessoai:ojs.csi.unmsm:article/202932021-08-16T12:11:38Z |
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Y Ba2Cu3O7 epitaxial superconducting film is consequence of an optimum epitaxial growth process of superconducting grains. Also, the substrate's epitaxy has a direct repercussion on the lm microstructure and its physical properties. Conventional characterization techniques such as: scanning electronic microscopy, and x ray difrraction, allowed us to obtain a quick assessment of epitaxy quality through of texture quantification of the film. We present the results of texture quantification in Y Ba2Cu3O7 superconducting films. |
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