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Dependencia en energía de la producción de picos de escape en espectroscopia de fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía

Descripción del Articulo

A theoretical model is presented to calculate the energy and relative intensity of escape peaks corresponding to the characteristic X-rays present in an energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) spectrum. The escape peaks of elements present in high concentration in a sample interfere with the id...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Bravo Cabrejos, Jorge A.
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2015
Institución:Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:ojs.csi.unmsm:article/11575
Enlace del recurso:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11575
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:escape peals
energy dispersive X-ray fluorescence
wood ashes
Picos de escape
fluorescencia de rayos-X dispersiva en energía
ceniza de madera
Descripción
Sumario:A theoretical model is presented to calculate the energy and relative intensity of escape peaks corresponding to the characteristic X-rays present in an energy dispersive X-ray fluorescence (EDXRF) spectrum. The escape peaks of elements present in high concentration in a sample interfere with the identification of characteristic X-rays of elements present in low concentration. The results of this analysis have been used to simulate with good results the presence of the escape peaks in a sample of wood ashes with high concentration of K and Ca.
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