Rutherford Backscattering Spectroscopy Study of Thin Films with (Sm + Eu) Complexes

Descripción del Articulo

In this work we report the use of Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) for the analysis, search of contaminants and measurements of thickness of the organic-lanthanide [SmxEuy(TTA)3(TPPO)2] thin films used as light-emitting layer in organic light-emitting diodes (OLEDs). Also a study of phot...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Reyes, Reynaldo, Brito, Hermi F., Cremona, Marco
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2016
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional de Ingeniería
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/53
Enlace del recurso:https://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/53
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Samario
Europio
Fotoluminescencia
RBS
OLED.
Samarium
Europium
Photoluminescence
RBS, OLED
OLED
Descripción
Sumario:In this work we report the use of Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) for the analysis, search of contaminants and measurements of thickness of the organic-lanthanide [SmxEuy(TTA)3(TPPO)2] thin films used as light-emitting layer in organic light-emitting diodes (OLEDs). Also a study of photoluminescence of the films [SmxEuy(TTA)3(TPPO)2] is realized, and it is found that the emission of light of the mixture is carried out independently for the molecules [Sm(TTA)3(TPPO)2] and [Eu(TTA)3(TPPO)2], not being observed a intermolecular energy transfer between these molecules.
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