Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry

Descripción del Articulo

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Detalles Bibliográficos
Autor: Choque Aquino, Jovanetty Ivan
Formato: tesis doctoral
Fecha de Publicación:2021
Institución:Superintendencia Nacional de Educación Superior Universitaria
Repositorio:Registro Nacional de Trabajos conducentes a Grados y Títulos - RENATI
Lenguaje:inglés
OAI Identifier:oai:renati.sunedu.gob.pe:renati/3018
Enlace del recurso:https://renati.sunedu.gob.pe/handle/sunedu/3071770
http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Medición de fase
Cambios de fase no uniformes
Distorsión de ondulatoria
Pistón espurio
Interferometría
https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.06
id RENATI_b2937866ac8859066fc76b162adb19b4
oai_identifier_str oai:renati.sunedu.gob.pe:renati/3018
network_acronym_str RENATI
network_name_str Registro Nacional de Trabajos conducentes a Grados y Títulos - RENATI
repository_id_str
dc.title.es_PE.fl_str_mv Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
dc.title.alternative.es_PE.fl_str_mv Medición de superficies con super resolución de películas delgadas de aluminio mediante interferometría de desplazamiento de fase
title Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
spellingShingle Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
Choque Aquino, Jovanetty Ivan
Medición de fase
Cambios de fase no uniformes
Distorsión de ondulatoria
Pistón espurio
Interferometría
https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.06
title_short Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
title_full Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
title_fullStr Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
title_full_unstemmed Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
title_sort Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
author Choque Aquino, Jovanetty Ivan
author_facet Choque Aquino, Jovanetty Ivan
author_role author
dc.contributor.advisor.fl_str_mv Servin Guirado, Manuel
dc.contributor.author.fl_str_mv Choque Aquino, Jovanetty Ivan
dc.subject.es_PE.fl_str_mv Medición de fase
Cambios de fase no uniformes
Distorsión de ondulatoria
Pistón espurio
Interferometría
topic Medición de fase
Cambios de fase no uniformes
Distorsión de ondulatoria
Pistón espurio
Interferometría
https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.06
dc.subject.ocde.es_PE.fl_str_mv https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.06
description Descargue el texto completo en el repositorio institucional del Centro de Investigaciones en Óptica: http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213
publishDate 2021
dc.date.accessioned.none.fl_str_mv 2022-01-21T15:10:36Z
dc.date.available.none.fl_str_mv 2022-01-21T15:10:36Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2021-05
dc.type.es_PE.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
dc.identifier.uri.none.fl_str_mv https://renati.sunedu.gob.pe/handle/sunedu/3071770
http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213
url https://renati.sunedu.gob.pe/handle/sunedu/3071770
http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213
dc.language.iso.es_PE.fl_str_mv eng
language eng
dc.rights.es_PE.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.es_PE.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.es_PE.fl_str_mv Centro de Investigaciones en Óptica
dc.publisher.country.es_PE.fl_str_mv MX
dc.source.es_PE.fl_str_mv Superintendencia Nacional de Educación Superior Universitaria - SUNEDU
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Registro Nacional de Trabajos conducentes a Grados y Títulos - RENATI
instname:Superintendencia Nacional de Educación Superior Universitaria
instacron:SUNEDU
instname_str Superintendencia Nacional de Educación Superior Universitaria
instacron_str SUNEDU
institution SUNEDU
reponame_str Registro Nacional de Trabajos conducentes a Grados y Títulos - RENATI
collection Registro Nacional de Trabajos conducentes a Grados y Títulos - RENATI
dc.source.uri.es_PE.fl_str_mv Registro Nacional de Trabajos de Investigación - RENATI
bitstream.url.fl_str_mv https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/1/ChoqueAquinoJI.pdf
https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/2/Autorizacion.pdf
https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/3/license.txt
https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/4/ChoqueAquinoJI.pdf.txt
https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/6/Autorizacion.pdf.txt
https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/5/ChoqueAquinoJI.pdf.jpg
https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/7/Autorizacion.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 928deca9d35dd4527646ccaf8d3c2129
a59a958a8de683ca4243d634a4dba948
8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33
847b6a7ba8e3a83cdde37b751e013a87
7d6ae8d746f7c69ee0df20e5e133e5eb
a5daff74a7e89aa598dd9be17d571a3d
6676f38edf9ad6eb2270b95d37340c0d
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
MD5
MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Registro Nacional de Trabajos de Investigación
repository.mail.fl_str_mv renati@sunedu.gob.pe
_version_ 1816177355319672832
spelling Servin Guirado, ManuelChoque Aquino, Jovanetty Ivan2022-01-21T15:10:36Z2022-01-21T15:10:36Z2021-05https://renati.sunedu.gob.pe/handle/sunedu/3071770http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213Descargue el texto completo en el repositorio institucional del Centro de Investigaciones en Óptica: http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213En esta disertación presentamos un procedimiento para medir la fase de interferogramas de desplazamiento de fase no uniformes con el fin de estimar la topografía de la superficie de una película delgada de aluminio. Los interferogramas se obtienen de un microscopio interferencial de Michelson, y los cambios de fase entre los interferogramas son no uniformes porque un transductor piezoeléctrico (PZT), que trabaja en modo de bucle abierto, se utiliza como desplazador de fase. Los cambios de fase no uniformes generan dos tipos de errores en las mediciones de fase: la distorsión de ondulación de doble frecuencia y el pistón espurio. Por lo tanto, para superar los errores antes mencionados, diseñamos algoritmos de corrección de errores y de desplazamiento de fase (PSA) no iterativos.In this dissertation, we present a procedure to measure the phase from non-uniform phase-shifting interferograms in order to estimate the surface topography of an aluminum thin film. Interferograms are acquired from a Michelson interferential microscope, and phase shifts among interferograms are non-uniform because a piezoelectric transducer (PZT), working in open-loop mode, is used as phase shifter. Non-uniform phase shifts generate two types of errors in phase measurements: the double-frequency ripple distortion and the spurious piston. Thus, in order to overcome the aforementioned errors, we design error-correcting and non-iterative phase shifting algorithms (PSAs).México. Consejo Nacional de Ciencia y Tecnología (Conacyt)application/pdfengCentro de Investigaciones en ÓpticaMXinfo:eu-repo/semantics/openAccessSuperintendencia Nacional de Educación Superior Universitaria - SUNEDURegistro Nacional de Trabajos de Investigación - RENATIreponame:Registro Nacional de Trabajos conducentes a Grados y Títulos - RENATIinstname:Superintendencia Nacional de Educación Superior Universitariainstacron:SUNEDUMedición de faseCambios de fase no uniformesDistorsión de ondulatoriaPistón espurioInterferometríahttps://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.06Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometryMedición de superficies con super resolución de películas delgadas de aluminio mediante interferometría de desplazamiento de faseinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisCentro de Investigaciones en ÓpticaÓpticaDoctor en Ciencias - Ópticahttp://purl.org/pe-repo/renati/level#doctorhttps://orcid.org/0000-0001-6968-204442730400http://purl.org/pe-repo/renati/type#tesisORIGINALChoqueAquinoJI.pdfChoqueAquinoJI.pdfTesis (abierta en repositorio de origen)application/pdf570640https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/1/ChoqueAquinoJI.pdf928deca9d35dd4527646ccaf8d3c2129MD51Autorizacion.pdfAutorizacion.pdfAutorización del registroapplication/pdf246288https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/2/Autorizacion.pdfa59a958a8de683ca4243d634a4dba948MD52LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81748https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/3/license.txt8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33MD53TEXTChoqueAquinoJI.pdf.txtChoqueAquinoJI.pdf.txtExtracted texttext/plain95083https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/4/ChoqueAquinoJI.pdf.txt847b6a7ba8e3a83cdde37b751e013a87MD54Autorizacion.pdf.txtAutorizacion.pdf.txtExtracted texttext/plain3211https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/6/Autorizacion.pdf.txt7d6ae8d746f7c69ee0df20e5e133e5ebMD56THUMBNAILChoqueAquinoJI.pdf.jpgChoqueAquinoJI.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1592https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/5/ChoqueAquinoJI.pdf.jpga5daff74a7e89aa598dd9be17d571a3dMD55Autorizacion.pdf.jpgAutorizacion.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1653https://renati.sunedu.gob.pe/bitstream/renati/3018/7/Autorizacion.pdf.jpg6676f38edf9ad6eb2270b95d37340c0dMD57renati/3018oai:renati.sunedu.gob.pe:renati/30182022-12-14 03:32:43.758Registro Nacional de Trabajos de Investigaciónrenati@sunedu.gob.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
score 13.982926
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