Surface measurement with super-resolution of aluminum thin films by using phase-shifting interferometry
Descripción del Articulo
Descargue el texto completo en el repositorio institucional del Centro de Investigaciones en Óptica: http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213
| Autor: | |
|---|---|
| Formato: | tesis doctoral |
| Fecha de Publicación: | 2021 |
| Institución: | Superintendencia Nacional de Educación Superior Universitaria |
| Repositorio: | Registro Nacional de Trabajos conducentes a Grados y Títulos - RENATI |
| Lenguaje: | inglés |
| OAI Identifier: | oai:renati.sunedu.gob.pe:renati/3018 |
| Enlace del recurso: | https://renati.sunedu.gob.pe/handle/sunedu/3071770 http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Medición de fase Cambios de fase no uniformes Distorsión de ondulatoria Pistón espurio Interferometría https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.06 |
| Sumario: | Descargue el texto completo en el repositorio institucional del Centro de Investigaciones en Óptica: http://cio.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1002/1213 |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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