Caracterización electrónica de óxidos semiconductores dependiente de la temperatura: implementación experimental y análisis físico
Descripción del Articulo
Se implemento y automatizo un sistema de efecto Hall para medir las propiedades eléctricas tales como, resistividad, movilidad, densidad y tipo de portador de carga en películas delgadas. Adicionalmente este sistema de medición fue implementado para realizar medidas en el rango de −190◦C hasta 350◦C...
| Autor: | |
|---|---|
| Formato: | tesis de maestría |
| Fecha de Publicación: | 2025 |
| Institución: | Pontificia Universidad Católica del Perú |
| Repositorio: | PUCP-Tesis |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:tesis.pucp.edu.pe:20.500.12404/31755 |
| Enlace del recurso: | http://hdl.handle.net/20.500.12404/31755 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Efecto Hall Películas delgadas--Propiedades eléctricas Resistividad--Medición https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.00 |
| Sumario: | Se implemento y automatizo un sistema de efecto Hall para medir las propiedades eléctricas tales como, resistividad, movilidad, densidad y tipo de portador de carga en películas delgadas. Adicionalmente este sistema de medición fue implementado para realizar medidas en el rango de −190◦C hasta 350◦C, para temperaturas criogénicas se usó nitrógeno líquido, mientras que para altas temperaturas se utilizó un calefactor embebido en la plataforma de medida. Con el objetivo de evaluar el sistema implementado se crecieron películas delgadas de óxido de zinc dopado con aluminio (AZO) por pulverización catódica. Para probar el sistema de medición en altas temperaturas se calentaron películas delgadas de AZO con diferentes condiciones, para encontrar una muestra estable en un amplio rango de temperaturas. Con el sistema implementado se calculó las energías de activación para una película delgada de carburo de silicio nitrogenado. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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