Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas semiconductoras de bajas temperaturas

Descripción del Articulo

Un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas a bajas temperaturas fue implementado empleando un sistema criogénico de ciclo cerrado de helio, un sistema de control de temperatura y un sistema de medición de resistividad. A fin de verificar el sistema implementado, seis cont...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autor: Llontop López-Dávalos, Paul David
Formato: tesis de maestría
Fecha de Publicación:2017
Institución:Consejo Nacional de Ciencia Tecnología e Innovación
Repositorio:CONCYTEC-Institucional
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:repositorio.concytec.gob.pe:20.500.12390/1843
Enlace del recurso:https://hdl.handle.net/20.500.12390/1843
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Semiconductores
Películas delgadas
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