Llontop López-Dávalos, P. D. (2017). Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica de películas delgadas semiconductoras de bajas temperaturas.
Citación estilo ChicagoLlontop López-Dávalos, Paul David. Implementación De Un Sistema De Medición De Resistividad Eléctrica De Películas Delgadas Semiconductoras De Bajas Temperaturas. 2017.
Cita MLALlontop López-Dávalos, Paul David. Implementación De Un Sistema De Medición De Resistividad Eléctrica De Películas Delgadas Semiconductoras De Bajas Temperaturas. 2017.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.