El presente trabajo describe el análisis de un patrón de franjas de interferencia (Interferograma) por el método de la transformada de Fourier para medir el espesor de una película delgada de dióxido de titanio (TiO2) depositado sobre un substrato de vidrio. Con tal propósito se ha diseñado e implementado una aplicación en MATLAB® para obtener la fase óptica de un interferograma, con la cual se ha reconstruido en 3-D la forma de superficie de una película delgada de TiO2 con el propósito de determinar su espesor y analizar su rugosidad y singularidades. Desde un interferómetro tipo Twymann – Green se obtiene el patrón de franjas de interferencia producto de la superposición de dos frentes de onda: uno que se refleja desde la superficie de la película delgada y otro desde un espejo plano de referencia. Mediante una cámara CCD conectada a un computador, se digitaliza un ...

El presente trabajo de tesis propone un método para determinar la topografía superficial de muestras de películas delgadas de TiO2 y SiC, mediante el análisis de interferogramas con técnicas de interferometría de desplazamiento de fase. Los interferogramas son obtenidos desde un microscopio interferencial tipo Michelson con amplificación 5X, tales interferogramas son producto de la interferencia entre dos frentes de onda, uno que se refleja desde la superficie de una película delgada y otro desde un espejo plano de referencia. Parte del proceso incluye el desarrollo de dos programas: Fringe Pattern App y PSI 90Degree, el primero para el control del desplazador de fase y adquisición de interferogramas desde el interferómetro, y el segundo para la selección de interferogramas con cambios de fase de π/2. Algoritmos tales como four step y de Schwider-Hariharan fueron utilizados e...

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El presente trabajo de tesis propone un método para determinar la topografía superficial de muestras de películas delgadas de TiO2 y SiC, mediante el análisis de interferogramas con técnicas de interferometría de desplazamiento de fase. Los interferogramas son obtenidos desde un microscopio interferencial tipo Michelson con amplificación 5X, tales interferogramas son producto de la interferencia entre dos frentes de onda, uno que se refleja desde la superficie de una película delgada y otro desde un espejo plano de referencia. Parte del proceso incluye el desarrollo de dos programas: Fringe Pattern App y PSI 90Degree, el primero para el control del desplazador de fase y adquisición de interferogramas desde el interferómetro, y el segundo para la selección de interferogramas con cambios de fase de π/2. Algoritmos tales como four step y de Schwider-Hariharan fueron utilizados e...