Clasificación de modelos tridimensionales no rígidos mediante redes neuronales convolucionales y descriptores espectrales

Descripción del Articulo

El objetivo es determinar la clase a la cual pertenece un objeto de entrada. Para ello, se desarrolló un algoritmo basado en la detección de puntos de interés, el uso de descriptores espectrales y técnicas de deep learning. La principal contribución de este trabajo es una técnica que permitirá ayuda...

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Detalles Bibliográficos
Autor: Llerena Quenaya, Jan Franco
Formato: tesis de grado
Fecha de Publicación:2018
Institución:Consejo Nacional de Ciencia Tecnología e Innovación
Repositorio:CONCYTEC-Institucional
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:repositorio.concytec.gob.pe:20.500.12390/1667
Enlace del recurso:https://hdl.handle.net/20.500.12390/1667
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Modelos tridimensionales
Captura tridimensional
Digitalización de información
Algoritmos
https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#2.02.04
Descripción
Sumario:El objetivo es determinar la clase a la cual pertenece un objeto de entrada. Para ello, se desarrolló un algoritmo basado en la detección de puntos de interés, el uso de descriptores espectrales y técnicas de deep learning. La principal contribución de este trabajo es una técnica que permitirá ayudar en tareas de clasificación, y que muestra robustez ante ciertos escenarios, puesto que tiene en consideración las diferentes transformaciones y/o deformaciones a las que se ven sujetos los modelos. Los resultados son evaluados y analizados usando la base de datos de SHREC 2011 (Non-Rigid Classification Benchmark), la cual contiene diferentes clases de modelos. Más aún, la propuesta es comparada con algunos métodos recientes del estado del arte, mostrando resultados promisorios. Considerando dos particiones diferentes de la colección de modelos, se obtiene una precisión del 91 % y del 95 % para cada caso, valores que superan a otros enfoques. Asimismo, nuestros resultados muestran robustez ante transformaciones como isometrías, ruido Gaussiano, agujeros, micro agujeros, escalamiento, sampling y shotnoise.
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