Monitoring of argon content in materials
Descripción del Articulo
It is reported the possibility of monitoring the presence of argon in the surface layer of materials using the fluorescent emission of characteristic K X-rays of argon by irradiation of the surface of the materials with low energy X-rays. The low energy of these characteristic X-rays, 2,97 keV, make...
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| Formato: | artículo |
| Fecha de Publicación: | 2013 |
| Institución: | Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Repositorio: | Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
| Lenguaje: | español |
| OAI Identifier: | oai:ojs.csi.unmsm:article/8657 |
| Enlace del recurso: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8657 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Monitoring argon X-ray fluorescence materials surface. Monitoreo argón fluorescencia de rayos X materiales superficie. |
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Monitoring of argon content in materialsMonitoreo del contenido de argón en los materialesBravo Cabrejos, J. A.Mejía Santillán, M. E.MonitoringargonX-ray fluorescencematerialssurface.Monitoreoargónfluorescencia de rayos Xmaterialessuperficie.It is reported the possibility of monitoring the presence of argon in the surface layer of materials using the fluorescent emission of characteristic K X-rays of argon by irradiation of the surface of the materials with low energy X-rays. The low energy of these characteristic X-rays, 2,97 keV, makes possible to monitor the presence of argon down a depth of some five microns.Se reporta la posibilidad de monitorear de manera cuantitativa la presencia de argón en la capasuperficial de los materiales utilizando la emisión fluorescente de los rayos-X característicos tipo K deargón producidos por irradiación de la superficie del material con rayos X de baja energía. La bajaenergía de estos rayos-X K, 2.97 keV, hace posible monitorear la presencia de este elemento hasta unaprofundidad de unos 5 micrones.Universidad Nacional Mayor de San Marcos2013-07-15info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfhttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/865710.15381/rif.v16i01.8657Revista de Investigación de Física; Vol. 16 No. 01 (2013); 1-4Revista de Investigación de Física; Vol. 16 Núm. 01 (2013); 1-41728-29771605-7724reponame:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstname:Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstacron:UNMSMspahttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8657/7516Derechos de autor 2013 J. A. Bravo Cabrejos, M. E. Mejía Santillánhttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0info:eu-repo/semantics/openAccessoai:ojs.csi.unmsm:article/86572020-09-03T20:06:06Z |
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It is reported the possibility of monitoring the presence of argon in the surface layer of materials using the fluorescent emission of characteristic K X-rays of argon by irradiation of the surface of the materials with low energy X-rays. The low energy of these characteristic X-rays, 2,97 keV, makes possible to monitor the presence of argon down a depth of some five microns. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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