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Surface Magneto-Optic Kerr Effect in Permalloy thin films (Ni81 Fe19)

Descripción del Articulo

A surface Kerr effect magnetometer (MEKS) was built to measure the magnetic properties of Permalloy (Ni81Fe19) thin films of 20 nm thickness. It was found that the coercive field of the samples has values between 2-6 Oe. The films showed in-plane uniaxial anisotropy and axes of easy and difficult ma...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Gutarra, Abel, Monteblanco, Elmer, Avilés, Luis
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2008
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional de Ingeniería
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/357
Enlace del recurso:https://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/357
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:MEKS
Permalloy
Anisotropía uniaxial
Curva de histéresis
Efecto Kerr
Películas delgadas
Laser
Polarización elíptica
Magneto óptica
Uniaxial anisotropy
Hysteresis curve
Kerr effect
Thin films
Elliptical polarization
Magneto optics
Descripción
Sumario:A surface Kerr effect magnetometer (MEKS) was built to measure the magnetic properties of Permalloy (Ni81Fe19) thin films of 20 nm thickness. It was found that the coercive field of the samples has values between 2-6 Oe. The films showed in-plane uniaxial anisotropy and axes of easy and difficult magnetization were identified. The Kerr angle was measured for the longitudinal and polar configurations and the magnetic saturation for different angles of incidence of the light beam. The results were satisfactorily compared with those obtained with a Vibrating Sample Magnetometer (VSM).
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