Se informa sobre una película delgada semiconductora tipo p de Cu2S hexagonal exitosa depositada a través de pulverización catódica con magnetrón de CC. Se depositaron películas con gradientes de espesor aprovechando la geometría de deposición y las dimensiones del objetivo. El análisis de difracción de rayos X (XRD) confirmó la formación exclusiva de la fase hexagonal Cu2S. La composición elemental y la dependencia del espesor con la posición de la muestra se determinaron mediante espectroscopía de rayos X de dispersión de energía. Las propiedades ópticas, incluida la banda prohibida óptica, el índice de refracción y el coeficiente de extinción, se evaluaron mediante el modelado de espectros de transmitancia. Para este propósito se emplearon el modelo oscilador Tauc-Lorentz y el modelo Drude. El análisis de datos XRD determinó con éxito el espesor de la pelícu...