En el presente trabajo se estudió el Efecto de la concentración de Cu en películas delgadas de dióxido de estaño (SnO2) sobre su Sensibilidad en la detección de vapor de etanol. Estas películas fueron depositadas sobre retazos de obleas de silicio-platino (Si/Pt) a temperatura de síntesis de 400°C mediante la técnica de rociado pirolítico. En este trabajo se empleó la técnica de difracción de rayos X por cristales, verificando la presencia de una estructura característica tipo casiterita propia del SnO2; así como la presencia de impurezas de Cu debido al dopante en las películas. Las imágenes de microscopia electrónica de barrido (MEB) y de microscopia de fuerza atómica (AFM) revelaron un cambio en la forma de los granos tornándose triangulares por la presencia del Cu, también mostraron un incremento en la rugosidad superficial. Los espectros de infrarrojo por trans...