Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS

Descripción del Articulo

En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso específico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en sí complementarios y co...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Azuero, Pedro, Castillo Ocaña, Guido Juvenal, Valera Palacios, Aníbal
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2001
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:UNI-Tesis
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/14345
Enlace del recurso:http://hdl.handle.net/20.500.14076/14345
https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Fotocorriente espectral
Photocurrent spectroscopy
id UUNI_8ef74c92419e93868393d5e2da9e1d44
oai_identifier_str oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/14345
network_acronym_str UUNI
network_name_str UNI-Tesis
repository_id_str 1534
dc.title.en.fl_str_mv Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
title Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
spellingShingle Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
Azuero, Pedro
Fotocorriente espectral
Photocurrent spectroscopy
title_short Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
title_full Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
title_fullStr Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
title_full_unstemmed Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
title_sort Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
dc.creator.none.fl_str_mv Castillo Ocaña, Guido Juvenal
Castillo Ocaña, Guido Juvenal
author Azuero, Pedro
author_facet Azuero, Pedro
Castillo Ocaña, Guido Juvenal
Valera Palacios, Aníbal
author_role author
author2 Castillo Ocaña, Guido Juvenal
Valera Palacios, Aníbal
author2_role author
author
dc.contributor.email.es.fl_str_mv avalera@uni.edu.pe
dc.contributor.author.fl_str_mv Azuero, Pedro
Castillo Ocaña, Guido Juvenal
Valera Palacios, Aníbal
dc.subject.es.fl_str_mv Fotocorriente espectral
Photocurrent spectroscopy
topic Fotocorriente espectral
Photocurrent spectroscopy
description En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso específico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en sí complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eV
publishDate 2001
dc.date.accessioned.none.fl_str_mv 2018-10-05T00:26:04Z
dc.date.available.none.fl_str_mv 2018-10-05T00:26:04Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2001-12-01
dc.type.es.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
format article
dc.identifier.citation.es.fl_str_mv Azuero, P., Castillo Ocaña, G., & Valera Palacios, A. (2001). Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS. TECNIA, 11(2). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517
dc.identifier.issn.none.fl_str_mv 2309-0413
dc.identifier.uri.none.fl_str_mv http://hdl.handle.net/20.500.14076/14345
dc.identifier.journal.es.fl_str_mv TECNIA
dc.identifier.doi.es.fl_str_mv https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517
identifier_str_mv Azuero, P., Castillo Ocaña, G., & Valera Palacios, A. (2001). Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS. TECNIA, 11(2). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517
2309-0413
TECNIA
url http://hdl.handle.net/20.500.14076/14345
https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517
dc.language.iso.es.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.ispartofseries.none.fl_str_mv Volumen;11
Número;2
dc.relation.uri.es.fl_str_mv http://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/517
dc.rights.es.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.uri.es.fl_str_mv http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
eu_rights_str_mv openAccess
rights_invalid_str_mv http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.format.es.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.es.fl_str_mv Universidad Nacional de Ingeniería
dc.source.es.fl_str_mv Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio Institucional - UNI
dc.source.none.fl_str_mv reponame:UNI-Tesis
instname:Universidad Nacional de Ingeniería
instacron:UNI
instname_str Universidad Nacional de Ingeniería
instacron_str UNI
institution UNI
reponame_str UNI-Tesis
collection UNI-Tesis
bitstream.url.fl_str_mv http://cybertesis.uni.edu.pe/bitstream/20.500.14076/14345/3/TECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdf.txt
http://cybertesis.uni.edu.pe/bitstream/20.500.14076/14345/2/license.txt
http://cybertesis.uni.edu.pe/bitstream/20.500.14076/14345/1/TECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdf
bitstream.checksum.fl_str_mv 2c6eb67c8897d916ae47524b1a844d3f
8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33
fc4f9e4e927b36311664e97cfe2dcc8b
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositorio Institucional - UNI
repository.mail.fl_str_mv repositorio@uni.edu.pe
_version_ 1840085582975336448
spelling Azuero, PedroCastillo Ocaña, Guido JuvenalValera Palacios, Aníbalavalera@uni.edu.peCastillo Ocaña, Guido JuvenalCastillo Ocaña, Guido Juvenal2018-10-05T00:26:04Z2018-10-05T00:26:04Z2001-12-01Azuero, P., Castillo Ocaña, G., & Valera Palacios, A. (2001). Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS. TECNIA, 11(2). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.5172309-0413http://hdl.handle.net/20.500.14076/14345TECNIAhttps://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso específico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en sí complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eVIn this work, we present results of spectral photocurrent measurements in the quantitative diagnostic of semiconductors, in the specific case of cadmium sulfide (CdS) thin films. We present three measurement modalities. The results are each other complementary and confirms, that the most relevant energy levels in CdS, from the photoelectric point of view, correspond to the values: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 and 2,60 eVSubmitted by Quispe Rabanal Flavio (flaviofime@hotmail.com) on 2018-10-05T00:26:04Z No. of bitstreams: 1 TECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdf: 8671530 bytes, checksum: fc4f9e4e927b36311664e97cfe2dcc8b (MD5)Made available in DSpace on 2018-10-05T00:26:04Z (GMT). No. of bitstreams: 1 TECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdf: 8671530 bytes, checksum: fc4f9e4e927b36311664e97cfe2dcc8b (MD5) Previous issue date: 2001-12-01Revisión por paresapplication/pdfspaUniversidad Nacional de IngenieríaVolumen;11Número;2http://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/517info:eu-repo/semantics/openAccesshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/Universidad Nacional de IngenieríaRepositorio Institucional - UNIreponame:UNI-Tesisinstname:Universidad Nacional de Ingenieríainstacron:UNIFotocorriente espectralPhotocurrent spectroscopyPhotocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDSinfo:eu-repo/semantics/articleTEXTTECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdf.txtTECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdf.txtExtracted texttext/plain10http://cybertesis.uni.edu.pe/bitstream/20.500.14076/14345/3/TECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdf.txt2c6eb67c8897d916ae47524b1a844d3fMD53LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81748http://cybertesis.uni.edu.pe/bitstream/20.500.14076/14345/2/license.txt8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33MD52ORIGINALTECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdfTECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdfapplication/pdf8671530http://cybertesis.uni.edu.pe/bitstream/20.500.14076/14345/1/TECNIA_Vol.11-n2-Art.2.pdffc4f9e4e927b36311664e97cfe2dcc8bMD5120.500.14076/14345oai:cybertesis.uni.edu.pe:20.500.14076/143452022-05-18 18:09:56.401Repositorio Institucional - UNIrepositorio@uni.edu.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
score 13.982926
Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).