Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films

Descripción del Articulo

En este trabajo se estudia las propiedades estructurales y morfológicas de las películas delgadas de plata de 60 nm de espesor, depositadas sobre sustrato de SiO2 y tratadas térmicamente a distintas temperaturas desde 250 hasta 1000℃. Se ha encontrado que al incrementar la temperatura de recocido, l...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Calle, R. M., De Los Santos, L., Bustamante, A., Angulo, J., Barnes, C. H. W.
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2015
Institución:Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:ojs.csi.unmsm:article/11580
Enlace del recurso:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11580
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Ag thin films
thermal crystallization
thermal treatment
Películas delgadas de Ag
cristalización térmica
recocido térmico
id REVUNMSM_d9abfaef6c5fd3dddd6803f036b08168
oai_identifier_str oai:ojs.csi.unmsm:article/11580
network_acronym_str REVUNMSM
network_name_str Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
repository_id_str
spelling Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin filmsCristalización y morfología superficial de películas delgadas de Ag/SiO2 tratadas térmicamenteCalle, R. M.De Los Santos, L.Bustamante, A.Angulo, J.Barnes, C. H. W.Ag thin filmsthermal crystallizationthermal treatmentPelículas delgadas de Agcristalización térmicarecocido térmicoEn este trabajo se estudia las propiedades estructurales y morfológicas de las películas delgadas de plata de 60 nm de espesor, depositadas sobre sustrato de SiO2 y tratadas térmicamente a distintas temperaturas desde 250 hasta 1000℃. Se ha encontrado que al incrementar la temperatura de recocido, la película de plata se cristaliza en la dirección [111] aumentando la rugosidad superficial y formando islas. Sin embargo, entre la temperatura de recocido de 800 a 900°C se observa un cambio en la orientación preferencial a la dirección [200]. Se discute este cambio de orientación mediante los procesos de difusión.In this work, the structural and morphological properties of 60 nm thick silver thin films growth on SiO2 substrates and thermally treated at different temperatures from 250 to 1000℃ are studied. We found that the silver thin film is crystallized in the [111] direction when the annealing temperature is increased and the surface roughness evolves forming islands. However, between the annealing temperatures from 800 to 900℃ a change in the preferred orientation to the [200] direction is observed. This change is discussed in terms of the diffusion processes.Universidad Nacional Mayor de San Marcos2015-12-15info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfhttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/1158010.15381/rif.v18i2.11580Revista de Investigación de Física; Vol. 18 No. 2 (2015)Revista de Investigación de Física; Vol. 18 Núm. 2 (2015)1728-29771605-7724reponame:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstname:Universidad Nacional Mayor de San Marcosinstacron:UNMSMspahttps://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11580/10386Derechos de autor 2015 R. M. Calle, L. De Los Santos, A. Bustamante, J. Angulo, C. H. W. Barneshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0info:eu-repo/semantics/openAccessoai:ojs.csi.unmsm:article/115802017-09-05T15:56:02Z
dc.title.none.fl_str_mv Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
Cristalización y morfología superficial de películas delgadas de Ag/SiO2 tratadas térmicamente
title Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
spellingShingle Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
Calle, R. M.
Ag thin films
thermal crystallization
thermal treatment
Películas delgadas de Ag
cristalización térmica
recocido térmico
title_short Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
title_full Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
title_fullStr Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
title_full_unstemmed Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
title_sort Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
dc.creator.none.fl_str_mv Calle, R. M.
De Los Santos, L.
Bustamante, A.
Angulo, J.
Barnes, C. H. W.
author Calle, R. M.
author_facet Calle, R. M.
De Los Santos, L.
Bustamante, A.
Angulo, J.
Barnes, C. H. W.
author_role author
author2 De Los Santos, L.
Bustamante, A.
Angulo, J.
Barnes, C. H. W.
author2_role author
author
author
author
dc.subject.none.fl_str_mv Ag thin films
thermal crystallization
thermal treatment
Películas delgadas de Ag
cristalización térmica
recocido térmico
topic Ag thin films
thermal crystallization
thermal treatment
Películas delgadas de Ag
cristalización térmica
recocido térmico
description En este trabajo se estudia las propiedades estructurales y morfológicas de las películas delgadas de plata de 60 nm de espesor, depositadas sobre sustrato de SiO2 y tratadas térmicamente a distintas temperaturas desde 250 hasta 1000℃. Se ha encontrado que al incrementar la temperatura de recocido, la película de plata se cristaliza en la dirección [111] aumentando la rugosidad superficial y formando islas. Sin embargo, entre la temperatura de recocido de 800 a 900°C se observa un cambio en la orientación preferencial a la dirección [200]. Se discute este cambio de orientación mediante los procesos de difusión.
publishDate 2015
dc.date.none.fl_str_mv 2015-12-15
dc.type.none.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion
format article
status_str publishedVersion
dc.identifier.none.fl_str_mv https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11580
10.15381/rif.v18i2.11580
url https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11580
identifier_str_mv 10.15381/rif.v18i2.11580
dc.language.none.fl_str_mv spa
language spa
dc.relation.none.fl_str_mv https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/11580/10386
dc.rights.none.fl_str_mv Derechos de autor 2015 R. M. Calle, L. De Los Santos, A. Bustamante, J. Angulo, C. H. W. Barnes
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
info:eu-repo/semantics/openAccess
rights_invalid_str_mv Derechos de autor 2015 R. M. Calle, L. De Los Santos, A. Bustamante, J. Angulo, C. H. W. Barnes
https://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidad Nacional Mayor de San Marcos
publisher.none.fl_str_mv Universidad Nacional Mayor de San Marcos
dc.source.none.fl_str_mv Revista de Investigación de Física; Vol. 18 No. 2 (2015)
Revista de Investigación de Física; Vol. 18 Núm. 2 (2015)
1728-2977
1605-7724
reponame:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
instname:Universidad Nacional Mayor de San Marcos
instacron:UNMSM
instname_str Universidad Nacional Mayor de San Marcos
instacron_str UNMSM
institution UNMSM
reponame_str Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
collection Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
repository.name.fl_str_mv
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1795238318941667328
score 13.914502
Crystallization and surface morphology of thermally treated Ag/SiO2 thin films
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