Optical interferometry for piezoelectric translation measurements

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In this work we used a simple Michelson interferometer to characterize the deformation of a piezoelectric material in function of voltage and frequency. We obtained the piezoelectric quality factors parameters, such as, the resonance frequency, the damping constant and the quality factor by simulati...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Reyna Ocas, Albert, Contreras Verástegui, Ilich, Lozano Bartra, Whualkuer
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2011
Institución:Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe:article/8727
Enlace del recurso:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8727
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:Michelson interferometry
piezoelectricity
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