MEASUREMENT OF COMPLEX REFRACTIVE INDEX AND FORBIDDEN BAND POWER SEMICONDUCTOR CdSe

Descripción del Articulo

We determine the complex refractive index (N) of a semiconducting CdSe thin film from the measurements of the transmittance spectrum. The experiment allow us to obtain, from the real part of refractive index, the N dispersive law, and from the imaginary part, the absortion coefficient. An energy dep...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Gonzalez Gonzalez, Juan Carlos, Chung Chang, César Augusto, León N., Carlos
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2000
Institución:Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe:article/8604
Enlace del recurso:https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8604
Nivel de acceso:acceso abierto
Materia:index of refraction
semiconductor
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