Optical interferometry for piezoelectric translation measurements
Descripción del Articulo
In this work we used a simple Michelson interferometer to characterize the deformation of a piezoelectric material in function of voltage and frequency. We obtained the piezoelectric quality factors parameters, such as, the resonance frequency, the damping constant and the quality factor by simulati...
Autores: | , , |
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Formato: | artículo |
Fecha de Publicación: | 2011 |
Institución: | Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
Repositorio: | Revistas - Universidad Nacional Mayor de San Marcos |
Lenguaje: | español |
OAI Identifier: | oai:ojs.csi.unmsm:article/8727 |
Enlace del recurso: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/8727 |
Nivel de acceso: | acceso abierto |
Materia: | Michelson interferometry piezoelectricity forced oscillator. Interferómetro de Michelson piezoelectricidad oscilador forzado. |
Sumario: | In this work we used a simple Michelson interferometer to characterize the deformation of a piezoelectric material in function of voltage and frequency. We obtained the piezoelectric quality factors parameters, such as, the resonance frequency, the damping constant and the quality factor by simulating its behaviour like a driven oscillator. |
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Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
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