Photocurrent Spectroscopy Applied to Semiconductor Thin Films: CDS

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In this work, we present results of spectral photocurrent measurements in the quantitative diagnostic of semiconductors, in the specific case of cadmium sulfide (CdS) thin films. We present three measurement modalities. The results are each other complementary and confirms, thatthe most relevant ene...

Descripción completa

Detalles Bibliográficos
Autores: Azuero, Pedro, Castillo Ocaña, Guido, Valera Palacios, Aníbal
Formato: artículo
Fecha de Publicación:2001
Institución:Universidad Nacional de Ingeniería
Repositorio:Revistas - Universidad Nacional de Ingeniería
Lenguaje:español
OAI Identifier:oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/517
Enlace del recurso:https://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/517
Nivel de acceso:acceso abierto
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spelling Photocurrent Spectroscopy Applied to Semiconductor Thin Films: CDSEspectroscopía de Fotocorriente aplicada a Películas Delgadas de Semiconductores: CDSAzuero, PedroCastillo Ocaña, GuidoValera Palacios, AníbalIn this work, we present results of spectral photocurrent measurements in the quantitative diagnostic of semiconductors, in the specific case of cadmium sulfide (CdS) thin films. We present three measurement modalities. The results are each other complementary and confirms, thatthe most relevant energy levels in CdS, from the photoelectric point of view, correspond to the values: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 and 2,60 eVEn este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso especifico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en si complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eVUniversidad Nacional de Ingeniería2001-12-01info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionArtículo evaluado por paresapplication/pdfhttps://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/51710.21754/tecnia.v11i2.517TECNIA; Vol. 11 No. 2 (2001)TECNIA; Vol. 11 Núm. 2 (2001)2309-04130375-7765reponame:Revistas - Universidad Nacional de Ingenieríainstname:Universidad Nacional de Ingenieríainstacron:UNIspahttps://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/517/480Derechos de autor 2001 TECNIAhttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0info:eu-repo/semantics/openAccessoai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/5172023-12-01T21:53:16Z
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