Análisis de sedimentos por fluorescencia de rayos x en energía dispersiva
Descripción del Articulo
Se ha analizado mediante Fluorescencia de Rayos X en Energía Dispersiva con excitación radioisotópica, una muestra desconocida de sedimento junto a un material de referencia, de matriz similar (SL-1/IAEA). Los errores observados fueron menores del 10% en la mayoría de los casos, excepto para el Ti....
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| Fecha de Publicación: | 2003 |
| Institución: | Instituto Peruano de Energía Nuclear |
| Repositorio: | IPEN-Institucional |
| Lenguaje: | español |
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| Enlace del recurso: | https://hdl.handle.net/20.500.13054/244 |
| Nivel de acceso: | acceso abierto |
| Materia: | Fluorescencia de rayos X Sedimentos Materiales de referencia normalizados |
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Se ha analizado mediante Fluorescencia de Rayos X en Energía Dispersiva con excitación radioisotópica, una muestra desconocida de sedimento junto a un material de referencia, de matriz similar (SL-1/IAEA). Los errores observados fueron menores del 10% en la mayoría de los casos, excepto para el Ti. Se utilizó una fuente anular de Cd-109 para la excitación de los elementos y un detector semiconductor de Si(Li), acoplado a una tarjeta multicanal incorporado en una PC para la detección de los rayos X característicos. Se ha usado el método de sensibilidad elemental para la determinación de concentraciones de los elementos presentes en rango de número atómico de 19 a 42 (k a Mo) mediante sus líneas K y de 50 a 93 (Sn a U), mediante sus líneas L. |
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