PROPIEDADES ESTRUCTURALES Y ELECTRÓNICAS DEL SUPERCONDUCTOR [Y(0.8)CA(0.2)](BA(0.5)SR(0.5))2CU3O7-δ

• Autores: Poma M., G. F., Bustamante D., A. G., de los Santos V., L., Majima, Y., Albino A., J., Osorio A., A. M.
• Formato: artículo
• Fecha de Publicación: 2012
• Institución: Universidad Nacional Mayor de San Marcos
• Repositorio: Revista UNMSM - Revista Peruana de Química e Ingeniería Química
• Lenguaje: español
• OAI Identifier: oai:ojs.csi.unmsm:article/4971
• Enlace del recurso: https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/quim/article/view/4971
• Nivel de acceso: acceso abierto
• Materia: Photoemission of superconductors; Crystal structure of superconductors; YBCO; YCaBaSr; Hybridization; Fotoemisión de superconductores; Estructura cristalina de superconductores; Hibridización

En este trabajo se reporta las propiedades estructurales y electrónicas del compuesto [Y0.8Ca0.2](Ba0.5Sr0.5)2Cu3O7-δ (YCaBaSr) que es superconductor con temperatura crítica TC = 80 K. El compuesto fue preparado mediante el método Sol-Gel. Las propiedades estructurales y electrónicas de este compuesto se estudiaron mediante difracción de rayos X (DRX) y espectroscopia de fotoemisión de rayos X (XPS) respectivamente. Los resultados fueron comparados con los del superconductor tradicional YBa2Cu3O7- δ (YBCO). Las medidas por XPS se realizaron a temperatura ambiente (en el estado normal) y a 30 K (estado superconductor). En el estado superconductor, los espectros XPS de ambos compuestos muestran corrimiento en el pico O 1s. Mientras que, la posición de los picos principales del Cu 3p no cambian de posición al ser medidos a 30 K y 293 K. Sin embargo, se observa en el espectro la aparición de un nuevo pico que podría originarse a la hibridización entre los estados Cu3d y O2p. Dichas variaciones en los corrimientos pueden estar relacionadas con las diferencias entre las estructuras cristalinas de ambas muestras. Además en este trabajo se adiciona el mapeo de Fourier de la estructura cristalina del YCaBaSr obtenido mediante refinamiento Rietveld de los difractogramas de rayos X.