Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules
Descripción del Articulo
In order to find a module’s real efficiency and predict its power and energy production it is necessary to study its behaviour and characterize it in the conditions in which it is installed. The single diode model for photovoltaic (PV) cells relates a cell’s current to its voltage through five elect...
Autores: | , , , , , , |
---|---|
Formato: | artículo |
Fecha de Publicación: | 2020 |
Institución: | Universidad Nacional de Ingeniería |
Repositorio: | Revista UNI - Tecnia |
Lenguaje: | español |
OAI Identifier: | oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/851 |
Enlace del recurso: | http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/851 |
Nivel de acceso: | acceso abierto |
Materia: | Fotovoltaica Modelado de tecnologías de lámina delgada Modelo de un solo diodo Extracción de parámetros Curva IV |
id |
0375-7765_b4de615d8b2750d8c839b5f9ca71940d |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:oai:revistas.uni.edu.pe:article/851 |
network_acronym_str |
0375-7765 |
repository_id_str |
. |
network_name_str |
Revista UNI - Tecnia |
spelling |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modulesEstudio de los métodos analíticos para la extracción de parámetros eléctricos de módulos fotovoltaicos de capas delgadasPerich Ibañez, Renzo AlbertoSevillano Bendezú, Miguel ÁngelMontes Romero, JesúsConde Mendoza, Luis ÁngelAngulo Abanto, José RubénDe la Casa Higueras, JuanPalomino Töfflinger, Jan AmaruFotovoltaicaModelado de tecnologías de lámina delgadaModelo de un solo diodoExtracción de parámetrosCurva IVIn order to find a module’s real efficiency and predict its power and energy production it is necessary to study its behaviour and characterize it in the conditions in which it is installed. The single diode model for photovoltaic (PV) cells relates a cell’s current to its voltage through five electric parameters which give us fundamental information about a module and the physical processes inside its cells. Currently, there are many analytical, numerical and heuristic methods used to extract the model’s parameters, each one with advantages and disadvantages that depend on the technology of the module and climate conditions. Current analytical methods used to extract parameters from silicon modules were applied to thin film PV modules in order to study their validity. This work presents the results of the parameter extraction by comparing the measured current-voltage (IV) curve with the modelled curve, as well as through Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) calculations with the objective of comparing and evaluating the selected analytical methods.Para conocer la eficiencia real de un panel y poder predecir su potencia y producción energética es necesario estudiar su comportamiento y caracterizarlo a las condiciones reales del lugar en el que está instalado. El modelo de un solo diodo para celdas fotovoltaicas (FV) relaciona la corriente y el voltaje del módulo FV mediante cinco parámetros eléctricos que nos dan información fundamental acerca de los procesos físicos que tienen lugar en las celdas FV y del estado del módulo. Actualmente, existen diversos métodos analíticos, numéricos y heurísticos para extraer los parámetros del modelo, cada uno con ventajas y desventajas que dependen del tipo de módulo y de las condiciones ambientales. Se realizó un estudio de métodos de extracción analíticos que se usan actualmente para módulos FV de silicio cristalino y se aplicaron a tecnologías FV de capas delgadas. En este trabajo se presentan los resultados de la extracción de parámetros a través de comparación entre la curva corriente-voltaje (IV) medida y la modelada, además de cálculos de Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) con el fin de comparar y evaluar ambos métodos analíticos.Universidad Nacional de Ingeniería2020-05-09info:eu-repo/semantics/articleinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionapplication/pdfapplication/xmlhttp://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/85110.21754/tecnia.v30i1.851TECNIA; Vol 30 No 1 (2020); 53-58TECNIA; Vol. 30 Núm. 1 (2020); 53-582309-04130375-7765reponame:Revista UNI - Tecniainstname:Universidad Nacional de Ingenieríainstacron:UNIspahttp://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/851/1307http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/851/1324info:eu-repo/semantics/openAccess2021-05-29T15:55:45Zmail@mail.com - |
dc.title.none.fl_str_mv |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules Estudio de los métodos analíticos para la extracción de parámetros eléctricos de módulos fotovoltaicos de capas delgadas |
title |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules |
spellingShingle |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules Perich Ibañez, Renzo Alberto Fotovoltaica Modelado de tecnologías de lámina delgada Modelo de un solo diodo Extracción de parámetros Curva IV |
title_short |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules |
title_full |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules |
title_fullStr |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules |
title_full_unstemmed |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules |
title_sort |
Study of analytical methods for extracting electric parameters of thin film photovoltaic modules |
dc.creator.none.fl_str_mv |
Perich Ibañez, Renzo Alberto Sevillano Bendezú, Miguel Ángel Montes Romero, Jesús Conde Mendoza, Luis Ángel Angulo Abanto, José Rubén De la Casa Higueras, Juan Palomino Töfflinger, Jan Amaru |
author |
Perich Ibañez, Renzo Alberto |
author_facet |
Perich Ibañez, Renzo Alberto Sevillano Bendezú, Miguel Ángel Montes Romero, Jesús Conde Mendoza, Luis Ángel Angulo Abanto, José Rubén De la Casa Higueras, Juan Palomino Töfflinger, Jan Amaru |
author_role |
author |
author2 |
Sevillano Bendezú, Miguel Ángel Montes Romero, Jesús Conde Mendoza, Luis Ángel Angulo Abanto, José Rubén De la Casa Higueras, Juan Palomino Töfflinger, Jan Amaru |
author2_role |
author author author author author author |
dc.subject.none.fl_str_mv |
Fotovoltaica Modelado de tecnologías de lámina delgada Modelo de un solo diodo Extracción de parámetros Curva IV |
topic |
Fotovoltaica Modelado de tecnologías de lámina delgada Modelo de un solo diodo Extracción de parámetros Curva IV |
dc.description.none.fl_txt_mv |
In order to find a module’s real efficiency and predict its power and energy production it is necessary to study its behaviour and characterize it in the conditions in which it is installed. The single diode model for photovoltaic (PV) cells relates a cell’s current to its voltage through five electric parameters which give us fundamental information about a module and the physical processes inside its cells. Currently, there are many analytical, numerical and heuristic methods used to extract the model’s parameters, each one with advantages and disadvantages that depend on the technology of the module and climate conditions. Current analytical methods used to extract parameters from silicon modules were applied to thin film PV modules in order to study their validity. This work presents the results of the parameter extraction by comparing the measured current-voltage (IV) curve with the modelled curve, as well as through Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) calculations with the objective of comparing and evaluating the selected analytical methods. Para conocer la eficiencia real de un panel y poder predecir su potencia y producción energética es necesario estudiar su comportamiento y caracterizarlo a las condiciones reales del lugar en el que está instalado. El modelo de un solo diodo para celdas fotovoltaicas (FV) relaciona la corriente y el voltaje del módulo FV mediante cinco parámetros eléctricos que nos dan información fundamental acerca de los procesos físicos que tienen lugar en las celdas FV y del estado del módulo. Actualmente, existen diversos métodos analíticos, numéricos y heurísticos para extraer los parámetros del modelo, cada uno con ventajas y desventajas que dependen del tipo de módulo y de las condiciones ambientales. Se realizó un estudio de métodos de extracción analíticos que se usan actualmente para módulos FV de silicio cristalino y se aplicaron a tecnologías FV de capas delgadas. En este trabajo se presentan los resultados de la extracción de parámetros a través de comparación entre la curva corriente-voltaje (IV) medida y la modelada, además de cálculos de Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) con el fin de comparar y evaluar ambos métodos analíticos. |
description |
In order to find a module’s real efficiency and predict its power and energy production it is necessary to study its behaviour and characterize it in the conditions in which it is installed. The single diode model for photovoltaic (PV) cells relates a cell’s current to its voltage through five electric parameters which give us fundamental information about a module and the physical processes inside its cells. Currently, there are many analytical, numerical and heuristic methods used to extract the model’s parameters, each one with advantages and disadvantages that depend on the technology of the module and climate conditions. Current analytical methods used to extract parameters from silicon modules were applied to thin film PV modules in order to study their validity. This work presents the results of the parameter extraction by comparing the measured current-voltage (IV) curve with the modelled curve, as well as through Normalized Root Mean Square Error (NRMSE) calculations with the objective of comparing and evaluating the selected analytical methods. |
publishDate |
2020 |
dc.date.none.fl_str_mv |
2020-05-09 |
dc.type.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/article info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
format |
article |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.none.fl_str_mv |
http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/851 10.21754/tecnia.v30i1.851 |
url |
http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/851 |
identifier_str_mv |
10.21754/tecnia.v30i1.851 |
dc.language.none.fl_str_mv |
spa |
language |
spa |
dc.relation.none.fl_str_mv |
http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/851/1307 http://www.revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/851/1324 |
dc.rights.none.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf application/xml |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Universidad Nacional de Ingeniería |
publisher.none.fl_str_mv |
Universidad Nacional de Ingeniería |
dc.source.none.fl_str_mv |
TECNIA; Vol 30 No 1 (2020); 53-58 TECNIA; Vol. 30 Núm. 1 (2020); 53-58 2309-0413 0375-7765 reponame:Revista UNI - Tecnia instname:Universidad Nacional de Ingeniería instacron:UNI |
reponame_str |
Revista UNI - Tecnia |
collection |
Revista UNI - Tecnia |
instname_str |
Universidad Nacional de Ingeniería |
instacron_str |
UNI |
institution |
UNI |
repository.name.fl_str_mv |
-
|
repository.mail.fl_str_mv |
mail@mail.com |
_version_ |
1701108800537231360 |
score |
13.989288 |
Nota importante:
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).
La información contenida en este registro es de entera responsabilidad de la institución que gestiona el repositorio institucional donde esta contenido este documento o set de datos. El CONCYTEC no se hace responsable por los contenidos (publicaciones y/o datos) accesibles a través del Repositorio Nacional Digital de Ciencia, Tecnología e Innovación de Acceso Abierto (ALICIA).