Cita APA

Choque Aquino, J. I. (2016). Determinación de la topografía superficial de películas delgadas de TiO2 y SiC mediante interferometría tipo Michelson.

Citación estilo Chicago

Choque Aquino, Jovanetty Iván. Determinación De La Topografía Superficial De Películas Delgadas De TiO2 Y SiC Mediante Interferometría Tipo Michelson. 2016.

Cita MLA

Choque Aquino, Jovanetty Iván. Determinación De La Topografía Superficial De Películas Delgadas De TiO2 Y SiC Mediante Interferometría Tipo Michelson. 2016.