Cita APA

Conde Mendoza, L. A. (2017). Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica en películas delgadas semiconductoras por el método de Van der Pauw.

Citación estilo Chicago

Conde Mendoza, Luis Angel. Implementación De Un Sistema De Medición De Resistividad Eléctrica En Películas Delgadas Semiconductoras Por El Método De Van Der Pauw. 2017.

Cita MLA

Conde Mendoza, Luis Angel. Implementación De Un Sistema De Medición De Resistividad Eléctrica En Películas Delgadas Semiconductoras Por El Método De Van Der Pauw. 2017.