Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5 - Rodríguez Laura, Sandro (2001)
En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti3O5), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.