Vasquez Arribasplata, F. G., & Rodriguez Rios, A. G. (2018). Efecto del porcentaje de cobalto y temperatura de recocido en películas delgadas semiconductoras de óxido de níquel sobre el tamaño de los cristales y la conductividad eléctrica utilizando la técnica drx y el método de cuatro puntas.
Citación estilo ChicagoVasquez Arribasplata, Felipe Gonzalo, y Ander Gloyer Rodriguez Rios. Efecto Del Porcentaje De Cobalto Y Temperatura De Recocido En Películas Delgadas Semiconductoras De óxido De Níquel Sobre El Tamaño De Los Cristales Y La Conductividad Eléctrica Utilizando La Técnica Drx Y El Método De Cuatro Puntas. 2018.
Cita MLAVasquez Arribasplata, Felipe Gonzalo, y Ander Gloyer Rodriguez Rios. Efecto Del Porcentaje De Cobalto Y Temperatura De Recocido En Películas Delgadas Semiconductoras De óxido De Níquel Sobre El Tamaño De Los Cristales Y La Conductividad Eléctrica Utilizando La Técnica Drx Y El Método De Cuatro Puntas. 2018.
